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DM1230型X荧光铝硅分析仪技术参数

发布时间:2023/4/631

DM1230型X荧光铝硅分析仪主要技术指标
1.分析范围:Al2O3、SiO2分析范围均可调节,通过标定工作曲线的方法选定。
2.分析范围宽度:Al2O3max—Al2O3min≤5%,SiO2max—SiO2min≤7%。
3.线性误差:Al2O3:±0.14%,SiO2:±0.14%。
4.系统分析时间:100秒、200秒、300秒,可选。
5.分析:SAl2O3≤0.07%,SSiO2≤0.07%。
6.温度稳定性:在5~+40℃范围内,漂移:∣△Al2O3∣≤0.07%,∣△SiO2∣≤0.07%。
7.使用条件:环境温度:5~+40℃,相对湿度:≤85%(30℃),供电电源:220V±20V,50Hz。
8.整机功耗:≤50W。
9.尺寸及重量:470mm×365mm×130mm,15kg。

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